综合孔径成像原理与应用
综合孔径成像技术是指对多个小口径成像系统进行综合处理，从而等效于一个大口径成像系统的成像性能。目前其研究的工作波段覆盖了从微波到被动辐射的全部波段，通过机载和星载平台，该技术已被广泛应用于遥感与成像．射电天文学，环境、大气和海洋监测等。《综合孔径成像原理与应用》介绍了综合孔径成像技术的发展现状和基本原理，详细阐述了光学综合孔径成像系统和被动毫米波综合孔径成像系统的三个关键问题：阵列设计与优化，相位误差和校正，图像重构和复原等，并给出了相应的实验验证系统。 《综合孔径成像原理与应用》是作者近几年来从事综合孔径成像的相关科研工作的总结和凝练，目的是为在校研究生和从事综合孔径成像技术研究与应用的科研人员提供一本内容详细的参考书。