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自动测试系统--硬件及软件技术

本书以自动测试系统设计的硬件、软件和下一代自动测试系统信息框架技术为主要内容,共分为三大部分16章,分别对自动测试系统的总线技术、软件技术及下一代测试体系信息框架技术进行了深入和详细的阐述。总线技术内容包括通用计算机测试总线技术、GPIB总线技术、VXI和MXI-2总线技术、PXI总线技术、LXI总线技术;软件技术包括计算机通用软件技术、自动测试系统软件开发环境、自动测试系统通用测试语言、自动测试系统仪器控制软件;下一代测试体系信息框架技术包括NeTestATS技术、ABBET体系结构、核心测试信息模型、测试基础框架、ABBET资源管理、AI-ESTATE规范。 本书可作为高等院校有关专业研究生教材或本科高年级教材,也可供从事自动测试系统开发、研制、生产的工程技术人员参考使用。
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